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                艾克赛普 NI半导体测试系统,半导体量产测试利◤器

                产品简介:

                长沙艾克赛普仪器设备有限公司是美国NI官方合作伙伴,如果您有半妖異女子冷冷道导体测试需求,欢迎致电长沙艾克赛普仪器设看著冷光备有限公司:0731-84284278,我们的工程师将为你提供最佳能力的半导体测试方案。 半导『体量产测试利器 NI 半导体测试系统 STS是☆一系列基于NI技术且适用于量产...

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                详细介绍
                  长沙艾克赛普仪器设备有限公司是美国NI官方合作伙伴,如果您有半导体测试需求,欢迎致电长沙艾克赛普仪器他设备有限公司:0731-84284278,我们的工程师将为你提供最佳的半导体测试方案。
                  

                  半导体量产测试▆利器—— NI 半导体测试系统

                  
                • STS是一系我們為什么就不能和三皇爭奪列基于NI技术且适用于量产环境〇的半导体测试系统。STS在完全封闭的测试头(test head)里面集成了NI PXI平台、TestStand测试管理软件以及LabVIEW图形化编程工具;
                • 这些系统采用“集成到测试迷惑头”(tester in a head)的设计,将量产测试系统的主要组件全部集成在测试头中,包括系统控制器】】、直流、交流和射频△仪器;
                • 待测设备连接以及 handler/prober docking机制。如此紧凑的设计大幅减小了占地空间,降低了爆炸聲徹響而起功耗,减轻了〖传统ATE测试系统的维护负担,从而节约了测试成本。此外,STS采用开放的模块化设计,使黑色光芒猛然從老五身上爆發而出您可以利用最新的工业标准你沒事吧PXI模块,连接更如果這樣還贏不了他多的仪器,获取更强大的计算能★力。
                  艾克赛普 NI半导体测试系统,半导体量产嗡测试利器
                 

                  现成即¤用的交互式软件

                  
                  数字pattern编辑器是一款用于导入、编辑、调试和载入测试pattern的交互式工具鶴王所到之處。编辑╳器包含Shmoo绘图等工【具,可帮助您更深入地了解不同条件下的DUT性能。您还可以使用丰》富的调试功能,覆盖pattern的故障,或使用数字※示波器工具查看pin数据。该软件还集成了芯片對方pin图、规格参数和pattern的编辑表,可让Ψ您开发、编辑或导入数※字测试向量和pattern。
                  

                  设备规范

                  
                  所有设备都拥有或需要一个规范来规定它们的№使用方式。测试工程师可以定义这些规范,并在数字 Pattern编辑器▆中将规范的参数用作 为公那得到式中的变量。
                  

                  数字示波卐器工具

                  
                  该工具使用pattern、时序集(timing  set)和电平,逐步更新数字波形实际模拟△电平的二维图。
                  

                  Shmoo工具

                  
                  Shmoo工具①可提供动态更新的合格/失败值强度↙图,而且可一次性 扫描两个变量,包括电平、电压、 电流、边ω 沿或规格。
                艾克赛普 NI半导体测试系统,半导体量产测那他试利器  
                 

                  从实验室到量产测试,为何只需一个平台

                  
                  过去IC较为简单且集成度较低,传统功能固定的台式仪器就足以满足实验室㊣ 的需求。但随⊙着集成度不断提高,测试要求也随之增加,所需的仪器也越来■越多。我们看到的验证测试台通常包含了众多仪器,这种测试台大大受限于可@用的占地面积和机架空间。而且空间并非唯一的问题。台式仪器通常设计为独立工作而非协同运行;即使通过 GPIB 或以太∴网进行集成 ,也无法实现所◥需的高数据吞吐量、低延迟通信和紧一劍密同步。
                  
                  另一方面,量产ATE主要是用于ㄨ满足对高度集成的微处理器、存储器和※复杂【SOC的需求。但是对于RF和混合信︾号IC,量产ATE很难进行扩好像都堆滿了東西啊展,而且通常无法提供所需的功能。总体而言,实验室的台式仪器和量产ATE等传统方法正在给芯片⊙供应商带来业务风险。此外,代码模块无法复用或难以充分利用≡、培训“学用脱节”等都会导致效率低下,从看無廣告而影响总测试成 本和产品上←市时间。鉴☆于上述种种情况,是时無疑是巨大候考虑基于PXI和NI软件平台的仙帝來做整体测试方法了。
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                  附上客户成功案例部分供参考

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